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X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。
测试方法对于直流电气性能的测试方法通常为直流拉载测试，基于家用环境的AC输入特性测试、效率测试、动态测试一系列的保护测试等，常用到的硬件电路构造如图所示：虽然是简单的交流电源+负载的构造，但是由于涉及到的测试项目比较多以及需要测试的相关参数比较多，对相应的测试设备也会有诸多的要求，其中有关交流输入的测试项绝大部分，比如关机测试、电网扰动模拟测试、以及电源调节率等测试都是由交流源实现的，有关输出的测试项如动态测试、过载保护测试、负载调节率测试绝大部分都是由负载来完成，艾德克斯ITS9500电源测试系统，可以测量各类电源模块的输入输出特性，将电子负载、交流源、功率计和示波器等功能整合，加上化上位机软件完成自动测试和数据。
无论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件和PXI功能，以帮助芯片商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中实验室级别的测量质量。
家里用的CD和DVD播放器，公室的激光打印机，以及商场的条码扫描器都有激光。另外，人们用激光近视视力，通过光纤网络发送邮件，浏览……似乎，我们每个人每天都使用激光。人类台红宝石激光器是196年美国研制成功的，我国也在1961年研制成功国产首台红宝石激光器。之后，激光技术的运用领域越来越广泛，越来越重要。激光技术被认为是与量子物理学、无线电技术、原子能技术、半导体技术、电子计算机技术并列的2世纪人类 重大的科技发明。
定时采集和状态采集主要数字采集技术有两种。种技术是定时采集，其中MSO以MSO采样率确定的距离相等的时间对数字信号采样。在每个样点上，MSO存储信号的逻辑状态，创建信号的时序图。第二种数字采集技术是状态采集。状态采集规定了数字信号逻辑状态有效稳定的特殊时间，这在同步和时钟输入数字电路中十分常见。时钟信号规定了信号状态有效的时间。，对采用上升沿时钟的D触发装置来说，输入信号稳定时间在时钟上升沿周围。
下面我们介绍 常用的两类蜂鸣器:有源蜂鸣器和无源蜂鸣器。从驱动方式分类，有源驱动和无源驱动，有源蜂鸣器又称为直流蜂鸣器，其内部已经包含了一个多谐振荡器，只要在两端施加额定直流电压即可发声，具有驱动、控制简单的特点，但价格略高。无源蜂鸣器又称为交流蜂鸣器，内部没有振荡器，需要在其两端施加特定频率的方波电压（注意并不是交流，即没有负极性电压）才能发声，具有可靠、成本低、发声频率可调整等特点。有源蜂鸣器与无源蜂鸣器有什么区别：这里的“源”不是指电源，而是指震荡源。
在CAN总线中，错误帧虽然不被接收，但是依然占用总线传输时间，所以导致其他正常节点发送延迟或者无法发送，影响整车CAN总线正常运行环境。解决方案：主机厂必须要求节点C的工作电压必须要工作在1.8V，乃至2.0V，这个问题便得以解决。错误帧占用总线波特率不一致导致CAN网络系统死机位时间（位宽）和波特率是CAN总线通讯的 基本要素。位时间=1/波特率，比如波特率是500k，那位时间是2us。在相同的CAN总线采样频率下，当某一个节点的位时间发生抖动时，即位时间为1.8us或者2.2us，将导致采样点的逻辑判断出现异常，出现总线错误，导致CAN网络系统死机。
